赛默飞世尔科技公司电镜部门(原FEI公司)与大连理工大学材料测试分析中心将于2019年7月5日联合举办电镜讲座。本次讲座面向聚焦扫描电镜技术发展趋势,热烈欢迎各位老师同学参加学习讨论。
讲座日期:2019年7月5日
主讲人:高海峰
讲座地点:大连理工大学材料测试分析中心
讲座日程:
9:00 - 10:00报告 《Thermofisher扫描电镜发展趋势》
10:30-12:00上机演示 《HeliosG4高分辨电镜典型样品表征》
13:30-14:30报告 《双束电镜发展趋势与应用》
15:00-16:30上机演示 《HeliosG4双束应用实例》
联系人:史淑艳 13591743852
主讲人高海峰FEI资深应用工程师,毕业于天津大学精密仪器国家重点实验室,研究方向为基于FIB-SEM的微纳米器件制作。2012年加入FEI公司,有近十年的聚焦离子束双束扫描电镜的应用经验,近几年专注于Xe等离子双束电镜的开发与应用。创造了多种TEM样品制备的方法,参与开发了三维成像技巧。在七年的FEI工作生涯中,为几百家国内外高校研究机构提供技术支持与咨询,与多家客户建立良好合作关系。